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勢National Instrumentsが肩號するNIWeek 2015∈徊雇獲瘟1∷では、供度脫IoT∈IIoT∷を蝗い、さまざまなシステムを倡券した毋が券山された。看隆敗竣の毀辯、Cirrus Logicのオ〖ディオコ〖デックICのテストデ〖タを豺老する措度、掛鄂怠の豌や怠攣の佰撅を畝不僑で浮叫する毋などを疽拆する。いずれもデ〖タ豺老怠墻を肋けており、≈IIoT Ready∽になったとしている。 [ⅹ魯きを粕む]
パワ〖染瞥攣のテストコストを布げる捏捌をケ〖スレ〖ˇインスツルメンツが乖った。これは、テクトロニクスˇケ〖スレ〖イノベ〖ションˇフォ〖ラムで湯らかにしたもの。事誤のパラメ〖タテストやTDDB活賦、光補(bǔ)バイアス活賦、デ〖タ豺老での箕粗沒教禍毋を疽拆した。 [ⅹ魯きを粕む]
泣塑ナショナルインスツルメンツ∈NI∷が、PXIベ〖スのワイヤレス怠達(dá)のテスタ〖WTS∈Wireless Test System∷を券山した(哭1)。この繞脫盧年達(dá)を蝗えば、スマ〖トフォンやIoT、痰俐チップなどの痰俐デバイスなどの拉墻ˇ怠墻のテストが詞帽になる。 [ⅹ魯きを粕む]
泣惟瀾侯疥は、尸豺墻が43pm(ピコメ〖トル)と端めて光い譬冊房排灰覆腮獨(dú)∈TEM∷を倡券、このほどメディアに給倡した(哭1)。このTEMの裁廬排暗は1.2MV(120它ボルト)と潤撅に光暗で、そのため尸豺墻が懼がり、驕丸より更い活瘟も囪弧できるようになった。 [ⅹ魯きを粕む]
National InstrumentsはICT度腸のトレンドを撅にウォッチしており、髓鉗トレンドに簇する糊灰を券乖している。海鉗は、5Gと、それに燃うIoTの舍第によって緩度脫のIoTすなわちIIoTによる怠常の夢墻步、それによる糠しいモノづくり匙炭、さらにATE∈極瓢テスト劉彌∷の恃匙、について卡れている。 [ⅹ魯きを粕む]
Mentor Graphicsは、マルチチップ箕洛に灤炳して、稱ICの眉灰デ〖タ、マルチチップを烹很したパッケ〖ジの眉灰デ〖タ、そのICパッケ〖ジを烹很するプリント芹俐答饒の眉灰デ〖タ、鏈てを定拇肋紛するためのツ〖ル、Xpedition Package Integratorを券山した。これにより、チップの眉灰からプリント芹俐饒まで票箕に肋紛できるようになる。 [ⅹ魯きを粕む]
≈1/fノイズを盧りたい∽と蛔うエンジニアに省不。Agilent Technologiesから盧年達(dá)嬸嚏が迫惟したKeysight Technologiesの泣塑恕客、キ〖サイトˇテクノロジ〖は、你件僑花不が端めて你い1/f盧年達(dá)を倡券した。1/fノイズの囪盧できる件僑眶が20Hz笆布と你く、ホワイトノイズが貍めるノイズフロアも驕丸の-177dB2/Hzから-183dB2/Hzと布がった。 [ⅹ魯きを粕む]
ソフトウエアベ〖スの盧年達(dá)メ〖カ〖National Instrumentsが、マイクロ僑のCAD/CAEベンダ〖のAWRを傾箭して3鉗。奶慨禱窖が4Gから5Gへ羹かうにつれ、尉莢のシナジ〖跟蔡(徊雇獲瘟1)が湯澄に山れてきた。剩花な5G禱窖をソフトウエア痰俐∈Software defined radio∷で灤炳し、マイクロ僑帴ミリ僑攙烯をAWRのAnalyst/AXIEMシミュレ〖タで肋紛する。 [ⅹ魯きを粕む]
アドバンテストが、セミコンジャパンでテスタ〖糠瀾墑を券山した。タッチセンサを礁姥したLCDドライバIC羹けのテスタ〖≈T6391∽(哭1)や、モジュ〖ル數(shù)及でさまざまなアナログIC/ミクストシグナルICに灤炳した≈EVA100∽(哭2)、512改のメモリの補(bǔ)刨潑拉を盧るハンドラ≈M6245∽(哭3)などだ。 [ⅹ魯きを粕む]
糜拍 渭呂會、泣塑ナショナルインスツルメンツ 洛山艱涅舔
ソフトウエアベ〖スの紛盧達(dá)を渴めてきたNational Instrumentsが呵奪、染瞥攣脫のテスタ〖尸填に徊掐した。揉らのコアとなるPXIモジュラ〖システムをベ〖スにした、染瞥攣脫のテスタ〖をリリ〖スした(徊雇獲瘟1)。泣塑恕客泣塑ナショナルインスツルメンツ洛山艱涅舔の糜拍渭呂會にその晾いを使いた。(瓢茶あり)
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