日本NI、さまざまな無線��格を1��でテストできる万�Ε謄好拭爾魍�発

 2015年6月17日 ｜�\術分析（���]・検�h����）

日本ナショナルインスツルメンツ（NI）が、PXIベースのワイヤレス機�_のテスターWTS（Wireless Test System）を発表した(図1)。この�@���R定�_を使えば、スマートフォンやIoT、無線チップなどの無線デバイスなどの性�ΑΦ��Δ離謄好箸��~単になる。 [→��きを読む]

日立��作所、加�]電圧1.2MVの��高圧透�垠薪纏匕家���を�o開

 2015年4月14日 ｜�\術分析（���]・検�h����）

日立��作所は、分解�Δ�43pm(ピコメートル)と極めて高い透�垠薪纏匕家���（TEM）を開発、このほどメディアに�o開した(図1)。このTEMの加�]電圧は1.2MV(120万ボルト)と��常に高圧で、そのため分解�Δ��屬�り、��来より厚い試料も�荵，任�るようになった。 [→��きを読む]

「サイバーフィジカル時代はスマートATEで�擇�残る」

 2015年4月 3日 ｜�噞分析

National InstrumentsはICT業�cのトレンドを常にウォッチしており、毎�Qトレンドに関する冊子を発行している。今�Qは、5Gと、それに伴うIoTの普及によって�噞��のIoTすなわちIIoTによる機械の���Σ宗△修譴砲茲訖靴靴ぅ皀里鼎�り革命、さらにATE（�O動テスト����）の変革、について触れている。 [→��きを読む]

Mentor Graphics、チップ、サブストレート、PCBを協調設��できるツール

 2015年3月25日 ｜�\術分析（半導��応��）

Mentor Graphicsは、マルチチップ時代に�官�して、�QICの端子データ、マルチチップを搭載したパッケージの端子データ、そのICパッケージを搭載するプリント配線基��の端子データ、��てを協調設��するためのツール、Xpedition Package Integratorを発表した。これにより、チップの端子からプリント配線��まで同時に設��できるようになる。 [→��きを読む]

キーサイトの新型1/fノイズ�R定�_、IoTのセンサ、ジッタの�h価にも

 2015年3月 5日 ｜�\術分析（���]・検�h����）

「1/fノイズを�Rりたい」と思うエンジニアに福音。Agilent Technologiesから�R定�_�靆腓�独立したKeysight Technologiesの日本法人、キーサイト・テクノロジーは、低周�S雑音が極めて低い1/f�R定�_を開発した。1/fノイズの�莟Rできる周�S数が20Hz以下と低く、ホワイトノイズが��めるノイズフロアも��来の-177dB2/Hzから-183dB2/Hzと下がった。 [→��きを読む]

National Instruments/AWRが5G、IoTの通信設��容易化ツールを発表

 2014年12月17日 ｜�\術分析（デバイス設��& FPD）

ソフトウエアベースの�R定�_メーカーNational Instrumentsが、マイクロ�SのCAD/CAEベンダーのAWRを�A収して3�Q。通信�\術が4Gから5Gへ向かうにつれ、両�vのシナジー効果(参考�@料1)が��確に表れてきた。複雑な5G�\術をソフトウエア無線（Software defined radio）で�官�し、マイクロ�S･ミリ�S�v路をAWRのAnalyst/AXIEMシミュレータで設��する。 [→��きを読む]

アドバンテスト、次世代ドライバ･アナログ･メモリのテスターを顔見せ

 2014年12月10日 ｜�\術分析（���]・検�h����）

アドバンテストが、セミコンジャパンでテスター新����を発表した。タッチセンサを集積したLCDドライバIC向けのテスター「T6391」(図1)や、モジュール�擬阿任気泙兇泙淵▲淵蹈�IC/ミクストシグナルICに�官�した「EVA100」(図2)、512個のメモリの�a度��性を�Rるハンドラ「M6245」(図3)などだ。 [→��きを読む]

日本NI、半導��分野への進出の狙いを池田社長に聞く(動画)

 2014年11月21日 ｜経営�vに聞く

池田　亮����、日本ナショナルインスツルメンツ　代表�D締役

ソフトウエアベースの���R�_を進めてきたNational Instrumentsが最�Z、半導����のテスター分野に参入した。彼らのコアとなるPXIモジュラーシステムをベースにした、半導����のテスターをリリースした(参考�@料1)。日本法人日本ナショナルインスツルメンツ代表�D締役の池田亮����にその狙いを聞いた。(動画あり)

フレキシブルに進化するテスターで半導��業�cに本格参入する日本NI

 2014年10月29日 ｜�\術分析（���]・検�h����）

����1��に数��のボードモジュールを差し込む�擬阿如▲妊�スプレイ表��やデータ処理にパソコンを使うという�R定�_を開発してきたNational Instrumentsは、半導��テスター分野にも本格的に乗り出してきた。同社の日本法人、日本ナショナルインスツルメンツは1日のイベントNIDaysを開��、半導��テスター(図1)開発の背景を��らかにした。 [→��きを読む]

新��Keysight、65Gサンプル/秒と��高�]のAWGを発売

 2014年9月11日 ｜�\術分析（���]・検�h����）

Keysight Technologiesは、65Gサンプル/秒と��常に高�]のサンプリングレートを�eち、20GHzという極めて広い帯域で最�j4チャンネルまで拡張できる任�T�S形発�昊_（AWG）を開発、����化した(図1)。Keysightは、もともとHewlett-Packardを母��として分かれたAgilent Technologyから、さらに���R�_�靆腓箸靴�2014�Q8月1日に分�`した企業。 [→��きを読む]