NI、RF/ミクストシグナルIC向けフレキシブルなテスターをリリース
National Instrumentsは、半導��チップの高性�Σ宗�高機�Σ修帽腓錣擦謄侫譽�シブルで再構成可�Δ僻焼���テストシステムSTS（Semiconductor Test System）を開発した（図1）。RFやミクストシグナル半導��のテスト向け。オープンなモジュラー��(sh┫)式のPXIハードウエアプラットフォームをベースにしているため、実�x��から量����にPXIを�\設するだけで�々圓任�る。最�j(lu┛)の��長は開発から量��までの期間�](m└i)縮だ。
図1 NIが開発したRF/ミクストシグナルIC向けのフレキシブルテスター
��性�h価に使ったソフトウエアとハードウエアを量��においてもそのまま使えるため、タイムツーマーケットを�](m└i)縮できる。開発と量��でのデータの相関をとることは�~単にできるとしている。PXIシステムは広バンド幅のPCI Expressバスを�Y��としているため、他のデバイスや����と接��可�Δ�。このPXIのエコシステムを�W(w┌ng)��することで、テストプログラム作成をサードパーティに依頼することもできる。
加えて、地震などの�u害により工場がストップして、他の工場で����を代��え�攵�する場合もすぐに�官�できる。��来なら工場ごとに����が違っていてテスターそのものも違う場合が�Hい。しかし、STSだと、ある����が�Vまっても、DUT�霾�を�Dり換えるだけで、被�uした工場のテストプログラムをそのまま�／△任�る。ハードウエアが共通だからだ。データの通信プロトコルも共通である。
半導��の集積度が�屬�るにつれ、テストカバレージを最適化するテストシステムは、�攵掚を�屬欧襪Δ┐廼砲瓩督_要になってくる。しかもコストを�屬欧困暴言囘戮��屬欧深＼ぢ絅船奪廚離謄好箸鬚靴燭い呂�。��にミクストシグナル半導������では、このPXIベースのSTSテストシステムは��来のテスターよりも低コストでカバレージを�屬欧襪海箸�できる、とInfineon Technologiesの�O動�Z���Z��エレクトロニクス����のシニアデザイン&アプリケーションエンジニアのHans-Peter Kreuter��(hu━)は述べている。
��に、最新のワイヤレス�\術で使われるRFとミクストシグナルの半導��新����をテストする場合、��来のATEで使われたテストカバレージが古すぎることもあるという。オープンでモジュラーアーキテクチャのこの新����では、TestStandテスト管理ソフトウエアとLabVIEWシステム設��ソフトウエアを�~使できるため、半導�����]にとって�l(shu┴)富な仕様をプログラム化できる。カスタマイズ可�Δ柄犧逎ぅ鵐拭璽侫А璽垢�、ハンドラとプローバの統合化、独�Oのピン配��を�eつデバイス�w�~のプログラミング、テストデータ形式の�Y��的なレポーティング、マルチサイトのサポートなどが可�Δ箸覆�。これらの機�Δ鮖箸ぁ▲謄好肇廛蹈哀薀爐粒�発とデバッグ、実行を早めることができる。
��(sh━)国中�雹�間8月5日から開��(h┐o)されたNIWeek 2014において、NIがデモしたサンプル(シミュレーション)では、DCパラメータテストからACテスト、��(c┬)渡応答テスト、高周�Sのsパラメータなど、RFデバイスに��要なテスト項�`を�k瞬のうちに済ませられる。さまざまな�R定条�PはGUI（Graphical User Interface）を使ってパラメータを変えると、��(c┬)渡応答の�S形の時間軸や電圧軸を拡�j(lu┛)し、リンギングなどの�S形の発振を確認できる。また、デバイスそのものを変える場合には、PXIプラットフォームに搭載しているFPGAを書き換えればよい。そのサポートスフトウエアもLabVIEWと�}ばれる、設��開発ツールを使って書き換えることができる。
NIはハードウエアプラットフォームのPXIシステムと、LabVIEWを?y┐n)△┐討い襪燭瓠�電子システムの設��とテストには、周辺�v路システムを組み込むだけですむ。このSTS半導��テスターが、この周辺�v路システムに相当する。
実際のSTSシステムは、通常のATEのように、半導������をテストするボードと、ハンドラを�Dり��け、テストする。ウェーハ�屬任離謄好箸發發舛蹐鷁���。STSシステムには3�|類の����があり、それぞれPXIシステムを1��、2��、4��を搭載できる��試作��、中��模�攵���、�j(lu┛)量�攵���、と使い分けることができる。
図2 National Instruments社Automated Test Marketingのシニアマネージャー、Luke Schreier��(hu━)
NIのPXIシステムの責任�vである、Automated Test MarketingのシニアマネージャーであるLuke Schreier��(hu━)(�^真2)によると、同社はこれまで17�Q間に渡って、PXIモジュールを開発してきた。PXIシステムには、����(シャシー）にシグナルアナライザや、ファンクショナルテストやプロトコルアウェアテスト、高�]シリアルインターフェースなどのモジュールを組み込んでいる。こういったモジュールは600�|類にも及ぶという。これらのPXIモジュールをカーエレクトロニクスや工業機�_(d│)、�豢�・宇宙��機�_(d│)などの分野で実績を積んできた。今�vのSTS����にPXIシステムを搭載した半導��テスターは、PXI応��の��長線�屬砲△�。
今後、NIは�Q(ch┘ng)PXIモジュールの性�ΑΦ��Δ鮖\��(d┛ng)し、PXIシステムを進化させる。半導��テスターも同様に進化する。今�v、NIは半導���噞に向けてテストベッドまで作り込んだが、これをさらにカスタマイズするつもりはない。むしろオープンなプラットフォーム��(sh┫)式であるから、サードパーティに半導����のテストベンチを作��してもらう��(sh┫)向だ。NIとしてはPXIモジュールをさらに進化させていくことに専念する。
