日本NI、さまざまな無線��格を1��でテストできる万�Ε謄好拭爾魍�発
日本ナショナルインスツルメンツ（NI）が、PXIベースのワイヤレス機�_のテスターWTS（Wireless Test System）を発表した(図1)。この�@���R定�_を使えば、スマートフォンやIoT、無線チップなどの無線デバイスなどの性�ΑΦ��Δ離謄好箸��~単になる。
図1 National Instrumentsが開発した�@��のワイヤレス通信テスター 出�Z：National Instruments
NIはこれまで、ワイヤレス通信機�_や半導��をテストするためのVST（ベクトル信�･肇薀鵐掘璽弌砲鬟螢蝓璽垢靴討�た(参考�@料1)。最�j6GHzの周�S数�J囲を�eち、最�jの帯域幅200MHzを�eった信�ﾈ��昊_と信�･▲淵薀ぅ兇��△┐討い�。これはワイヤレス機�_やRF半導��チップ開発･試作には向いているが、�H数のチップや機�_をテストするには向いていない。
WTSでは、PXIシャーシ(����)に�R定モジュールを�U入する構�]を�eち、�U御するためのPXIコントローラも搭載している。このシャーシにはVSTモジュールを2��搭載でき、しかも�U御と演�Q��に最新のプロセッサモジュールボードも搭載できる。このプロセッサボードにはIntelのCore i7をCPUとして使っている。�R定��の端子を8個���Tしているため最�j8個のチップを�R定できる。
ワイヤレス通信の��格は絶えず進化を�~げてきた。モバイルネットワークは、アナログ電�Bから��2世代のデジタル電�B、��3世代のデジタルCDMA電�B、そして��4世代のLTE電�B（世�c中でNTTドコモだけが3.9世代と�}んでいる）、次に来るのは��5世代（5G）電�Bだ。無線LANのWi-Fiもデータレートの��かった802.11bから11a、11g、11n、11ac、クルマ間通信の11pとやってきて、これから11adさらには11axと進化は��く。Bluetoothも1.0から2.0などから4.1、さらにはこれをベースにBluetooth LE (Low Energy)あるいはBluetooth Smartといった��格へと発�tしてきた。今後IoT時代をにらみ、アドホックなメッシュネットワークに�官�できるBluetooth Meshの��格も策定中だ。しかも、これらの��格は共�Tすることが�Hい(図2)。
図2 ワイヤレス��格はますます�H様に 出�Z：National Instruments
無線�\術は、�jきく分けてRF�v路とモデムのベースバンド�v路がある。RFは高周�S信�､鮖\幅しキャリア周�S数から信���霾�を�Dり出すために、周�S数そのものや帯域に�jきく関係する。ベースバンド�v路では変調された信�､鯢�調するが、復調アルゴリズムに依�Tする。��ての周�S数や変復調アルゴリズムに�官�するとなると、�R定�_がいくらあっても��いきれない。コストも�\加する。
そこで、�R定周�S数やモデム検証テストがいろいろ違っても�官�できるモジュール�擬阿離廛薀奪肇侫�ームが��要になってくる。それがPXIベースのワイヤレスチップや機�_��の�R定�_である。�R定パラメータなどは、NIが開発してきたLabVIEWやTestStandで設定し新�v路を設��･検証できる�屬�、新しいハードウエア�v路を構成したい場合には内�鼎�FPGAをプログラムし直せばよい。こういったフレキシブルなワイヤレス�R定�_が今�vのWSTである。
BluetoothやWi-Fi、モバイルネットワーク、GPSなどさまざまな無線��半導��チップのテストには、ソフトウエアでテストパラメータや順�Mなどをソフトウエアで開発し、チップの高周�S��性やモデムのコンスタレーション��性などをPXIで実際に�R定する。���R時間は��来の�R定�_をさほど変わらないが、�R定項�`を設定・変��したり、�R定データを解析しデータ処理したりする時間を�]縮できる。
加えて量����チップでは、このPXIシャーシを半導��テストベッドSTS(参考�@料2)に内�鼎靴討い襪燭�、そのままワイヤレステストが可�Δ砲覆�。
参考�@料
1. NIがワイヤレス分野に本格参入、ハンドヘルドの802.11ac�R定�_を開発 (2012/08/09)
2. フレキシブルに進化するテスターで半導��業�cに参入する日本NI (2014/10/29)
