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Michael L. Santori��、��National Instruments社フェロー兼����マーケティング担当バイスプレジデント Software-Designed Instruments（ソフトウエアで設��する�R定�_）を���C的に�]ち出しているNational Instruments社。同社の�R定�_は、コンピュータとソフトウエアを基本として���R�霾�のみモジュールで構成するというコンセプトだ。最�Z、よく聞く言��として「Software-Defined xxxx」がある。時代がNI社に�Zづいてきたという感じさえある。同社����開発を指導するフェローにこれからのNIのあり�気鯤垢い拭� [→��きを読む]
IoT（Internet of Things）、サイバー･フィジカルシステム、ビッグアナログデータ、SDI (Software-Designed Instruments)。8月5日から開��されたNIWeek 2014の初日の基調講演では、主���vのNational Instrumentsは、メガトレンドIoTを�B��に採り�屬押�IoT時代に�官�する�R定�_のあり�気鮨�唆した。 [→��きを読む]
National Instrumentsは、半導��チップの高性�Σ宗�高機�Σ修帽腓錣擦謄侫譽�シブルで再構成可�Δ僻焼���テストシステムSTS（Semiconductor Test System）を開発した（図1）。RFやミクストシグナル半導��のテスト向け。オープンなモジュラー�擬阿�PXIハードウエアプラットフォームをベースにしているため、実�x��から量����にPXIを�\設するだけで�々圓任�る。最�jの��長は開発から量��までの期間�]縮だ。 [→��きを読む]
AppleのiPadやWindowsパソコンで、設定やデータ解析ができるワイヤレス�R定�_、VirtualBenchを日本National Instrumentsが発売した。このワイヤレス�R定�_には、サンプリング周�S数1GHzのオシロスコープとファンクションジェネレータ、デジタルマルチメータ（DMM）、プログラマブル電源、デジタルI/Oの5�|類の機�Δ鯏觝椶靴討い襦� [→��きを読む]
IoT（Internet of Things）やIndustrial Internetの時代に適した予防メンテナンス�x場を狙い、Agilent Technologiesがハンドヘルドタイプの�軍粟�（IR）サーモグラフィと絶縁�B�^��を開発した。サーモグラフィは日本アビオニクスとの共同開発。 [→��きを読む]
![Mentor、パワー半導��のオンオフ試�xを1/10に�]縮するテスターを開発](/assets_c/900px/140514-mentor.png "Mentor、パワー半導��のオンオフ試�xを1/10に�]縮するテスターを開発")
パワー半導��の故障モードには、金���霾�のクラックやはがれ、溶融ショートなど、デジタルや�@��アナログなどとは異なることが�Hい。数A以�屬鯲�すパワー半導��では�Xによる故障がよくある。EDAだけではなく組み込み�Uやパワー分野にも�}を広げているMentor Graphicsがパワー半導��の信頼性を�h価する����(図1)を発売した。 [→��きを読む]
ソフトウエアでフレキシブルに機�Δ箴鴕Pを変えられる仕組みが�}�rりだ。通信モデムのハードウエアはそのままにして、ソフトウエアを変えるだけで�Q�|の通信変調�擬阿吠僂┐蕕譴襯愁侫肇Ε┘¬祇�（software-defined radio）をはじめ、SDN（software-defined network）が登場した（参考�@料1)が、さらに�R定�_の世�cでもSoftware-defined test systemが出てきた。 [→��きを読む]
Mentor Graphicsは、Verification 3.0と称する時代に入ったと同社CEOのWally Rhines��（図1）はGlobalpress Connection主��のEuroAsia 2014において述べた。検証作業にソフトウエアとハードウエアの両�気鮖箸Δ茲Δ砲覆辰�2.0の時代から、グローバルなエコシステムが�LかせないSoC時代に向いた、クラウドベースでのVerification 3.0時代に突入した。 [→��きを読む]
�R定�_の世�cでも半導��ICと同様、�H機�Σ修�進んでいる。オシロスコープとスペクトラムアナライザを搭載した�R定�_はこれまでもあるが、Tektronixはこれらに加えロジックアナライザと任�T�S形のファンクションジェネレータ、プロトコルアナライザ、DVM（デジタル電圧��）の機�Δ鯏觝椶靴娠R定�_MDO3000シリーズを発売した。Agilent Technologiesはジッター印加、ディエンファシス、�q害信�ｸ察▲�ロック�ﾇ槹_、CDR、イコライザなどを搭載したビット誤り率�R定�_M8000シリーズを発売した。 [→��きを読む]
アドバンテストは、テストヘッドを除く�霾�を共通化したテストプラットフォームT2000を基本とするビジネス戦�Sを進めており、このセミコンジャパンでもT2000に接��するためのテストハンドラやモジュールを��々発表した。ハンドラやモジュールで��長を�eたせている。 [→��きを読む]
