���R�_・検�h・検証

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世�cのエコシステム構築に経営トップレベルが交流できるGSA

 2013年12月12日 ｜会議報告（プレビュー）

世�cのエコシステムをどうやって構築していくか、これをテーマにしたパネルディスカッション(図1)がSEMICONジャパンの会場で行われた。主���vのGSA（Global Semiconductor Alliance）は、世�c中の半導��および半導��関連企業のトップが集まる人脈ネットワークで、��業の拡�jと業�cの発�tに貢献することを最�jの狙いとした団��だ。 [→��きを読む]

半導��プロセスはビッグデータ解析で�攵掚向�屬悄�AEC/APC Sympo2013から

 2013年11月14日 ｜会議報告（プレビュー）

半導�����]におけるプロセスパラメータがあまりにも膨�jになり、まるでビッグデータそのものの扱いと同様な分析法が求められるようになりつつある。さまざまな検索データや通信ログ、などの膨�jなデータをクラウド�屬能萢�するビッグデータの解析�}法が、半導��プロセスのデータにそっくりそのまま当てはまるのである。 [→��きを読む]

東��S&S、アナログICのテスト時間を1/143に�]縮、NIのツールが威��を発ｧ

 2013年11月13日 ｜�\術分析（���]・検�h����）

アナログやミクストシグナルICなどの試作�h価は�}間がかかり、設��するたびにテストプログラムを作らなければならない。さまざまなテスト条�P作成をはじめ�T構な時間がかかる。少しでも�O動化してプログラムを再�W��できれば、次のデバイス�h価の時間を�]縮できる。東��は、National Instrumentsのハードとソフトを初めて使ってテスト時間を1/143以下に�]縮したという��例を発表した。 [→��きを読む]

Keithley、タッチパネル�擬阿諒９�DC�R定�_SMUを発売

 2013年8月28日 ｜�\術分析（���]・検�h����）

絶縁��や半導��pn接合の微小なリーク電流�R定�_で定�hのあるKeithley Instrumentsが、使い�M�}を格段に向�屬気察⊆��R時間を�j幅に�]縮した�R定�_SMU（Source Measurement Unit）を61万��で発売した。SMUは電圧源、電流源を内�鼎轡�ーブトレーサやデジタルマルチメータの機�Δ魴eつDC�R定�_。同社がTektronixと経営統合し、シナジー効果を発ｧした����だ。 [→��きを読む]

3次元ICや基��内��ICのテスト法の主流になるか、バウンダリスキャン

 2013年6月26日 ｜�\術分析（デバイス設��& FPD）

バウンダリスキャン法がBGAや3次元ICのハンダボールの接��をテストする�}法として、JPCA（日本電子�v路工業会）ショー2013で�R�`された。アンドールシステムサポートが積極的にこの�}法を推進しているのに加え、富士通インターコネクトテクノロジーズも、スーパーコンピュータ｢�B｣のテストにこの�}法を使っていたと述べた。 [→��きを読む]

モバイル端��にけん引され、半導��・FPDとも日本�����]����は好調

 2013年6月25日 ｜�x場分析

SEAJ（日本半導�����]����協会）が発表した、2013�Q5月における日本��半導�����]����の1.17というB/Bレシオ（販売�Yに�瓦垢��p�R�Yの比）は、�p�R�Yが�\え��けている好調さをよく表している。昨�Q10月を�fとして、�p�R�Yは�Pび��け、5月には1�Qぶりに1000億��の�j��に乗った。 [→��きを読む]

��要が�峺�き、��めの�e勢を見せ始めた半導��・���]����企業

 2013年6月24日 ｜週間ニュース分析

スマートフォンやタブレットの��要拡�jを�pけ、半導��チップだけではなく、半導�����]����も好調に推�，靴討い襦�SEAJが発表したB/Bレシオは1.17で、6月22日の日本経済新聞は「�p�R�嵜兇譟徂集修妊妊�スコの好調さを伝えている。�L外�t開は��に半導�����]����が��発で、後工������のTOWAは現地�攵�すると24日の日刊工業新聞が報じた。 [→��きを読む]

日本の半導�����]����メーカー、世�cでも顧客満�B度依��として高い

 2013年6月17日 ｜週間ニュース分析

日本の半導�����]����メーカーは世�c�x場で依��、健�hしている。VLSI Researchが行った半導�����]・検�h�����j�}の顧客満�B度調�hでは、日本企業が�岼�10社中6社を��めている、と6月17日の日経�噞新聞が伝えた。先週は、設��関係のニュースが比較的集まっていた。また、NANDフラッシュの新�x場SSDは爆発しそうな勢いだ。 [→��きを読む]

Intel、Atomベースのプロセッサをサムスンに初納入、Galaxy Tab向け

 2013年6月10日 ｜週間ニュース分析

先週は����で開��されたComputex Taipei 2013、東�BでのJPCAショー、今週は�B都で行われるVLSI Symposium 2013、と先端半導��のイベントが��く。ハイテクメディアが�j勢����に行ったわりにはニュースがさほど�Hくなかったが、いくつか�Rってみよう。 [→��きを読む]

EIDEC、グローバル協��で10nm��の加工にEUV導入�`指す（3）〜レジスト

 2013年5月31日 ｜会議報告（プレビュー）

フォトレジストでは、昨�Qまではポジ型レジストを使い、解�掬�16nm以下、LWR（線幅の��さ：line width roughness）1.3nm以下、感度10mJ/cm2以下、という数値を�uていた。解�掬戮�LWR、感度の��つのパラメータはトレードオフの関係にあるため、��つのパラメータを最適化させる��要がある(図8)。今�Qは、ネガ型レジストを使ってどこまでいけるかの実�xである。 [→��きを読む]

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