図1　2015�Qの�\術動向をまとめたNIのExecutive VP、Eric Starkloff��(hu━)　�^真はNIWeek 2014でプレゼンした時のもの

この冊子は、同社セールス＆マーケティング�靆臙甘�エグゼクティブバイスプレジデントのEric Starkloff��(hu━)が責任��集した、解説書。エレクトロニクス・IT�噞の未来を映し出すトレンドを�Wいている。5Gのコンセプトは、データレートの高�]化だけではない。10Gbpsを�`指す高�]化に加え、数�臆�個を��えるデバイスとの接��が可�Δ砲覆襪海箸�ら、ビルや橋�悗離瓮鵐謄淵鵐垢覆匹忙箸�工業��のIIoTと、ヘルスケアデバイスに代表される�c�效�IoTなど、異なるデバイスが異なる周�S数帯で共�Tするようになる。ネットワークにおける����を数��msではなく、1ms以下の�](m└i)時間で�O��的な操作を可�Δ砲垢���要がある。

これまでの2G、3G、4Gへと世代交��するごとにデータレートを�屬欧討�た。しかし、データレートが数��Mbpsまで�屬�るとビデオ伝送が�j(lu┛)��化し、さらにビデオの高�@細化が進むようになっている。HDテレビでは満�Bできない4Kなどの高解�掬戰咼妊�を放送する���△賄Dっている。モバイルは4Kをストアする機�Δ魴eち、�j(lu┛)型画�Cでコンテンツを見るという役割に変わってくる。

�\術的なデータレートの向�屬砲蓮�高周�S�W(w┌ng)��だけではなくビットを�\やす変調��(sh┫)式も検討されている。現在のOFDM（直交周�S数分割�H�_）から、1Hz当たりのビット数をさらに�\やす変調��(sh┫)式や、ネットワークを高密度にするためのスモールセルの設��や、C-RANを�W(w┌ng)��する�}もある。アンテナの数を�\やすMIMO�\術も感度を�屬欧諳kつだ。もちろん�S形�D形・誤り�ﾙ�は言うまでもない。

IIoTに関しては、�噞����が「サイバーフィジカル･システム」に�々圓垢襪噺�ており、これが新しい�噞革命を引き��すとする。デジタルの世�cと、�駘�的な世�cを、センサやアクチュエータを使って接��し、複雑な�U(ku┛)御の問��を解��する�}段だと捉えている。工場では膨�j(lu┛)な数の機械を相互接��して通信させ、データ解析とアクションを連動させることで�攵掚を�屬欧蕕譴襪茲Δ砲覆襦�

NIは、�R定�_(d│)メーカーであるから、インターネットにつながるIoTの普及で�O動テスター（ATE）がどう変わるかについて、��察している。少なくともIoTには、センサ、アナログ、�U(ku┛)御マイコン、送�p信?d─ng)v路を?y┐n)△┐討い襦�これらはアナログとデジタルが混じった�v路である。このミクストシグナル�v路のテストは、デジタル�v路と違って�Mしい。�v路ごとに機�Δ�異なり�v路構成も違う。しかも数量がある��度�Hくなると見られるため、�j(lu┛)量処理すなわちスループットを高めなければならない。

IIoTデバイスのテストには、スマートハウスやスマートビルディングのように賢くテストする��要がある、とNIが考えた。NIはこれをスマートATEと�}び、IoT����の様々な変化にもすぐに�官�できるATEを�`指している。さまざまな機械とそれに使うセンサやアクチュエータ、その情報を送�p信するIoTは、メモリ����と比べると少量�H���|�攵�であり、そのテスターはそれぞれに���Tする��要がある。しかし、それぞれのテスターを開発するにはコストが膨�j(lu┛)になる。だからこそ、スマートATEが求められる。

スマートATEでは、あらゆるデバイスのテストに�Wく�官�する。例えば、SamsungのスマートフォンGalaxy S5ではテストコストをS4よりも1��当たり0.09ドル削��(f┫)しながら5�|類のセンサを�\やしている。これを可�Δ砲垢襪燭瓠∩蠍澑臣�性に優れたオープン��格に基づきテスト戦�Sを構築したという。このテスト戦�Sこそ、ATEのプラットフォーム化だとNIは見る。ATEのプラットフォームのモジュール性を?q┗)���することでプロセスの�~素化を図ることができるとする。

最�Z、NIがSoftware-Designed Testと言っている言��とも符合する。モジュール式だとデータ解析や�U(ku┛)御に使うコンピューティング機�Δ�Intelなどの商��にマイクロプロセッサを中心に実現すればよい。�R定�霾�のハードウエアをモジュール化しておけば、アナログや送�p信?d─ng)v路など�v路ごとにモジュールを�Dり換えるだけで��要なテストが可�Δ砲覆襦�ソフトウエアもOS、ミドルウエア、アプリケーションと階層構�]でモジュールされていれば下位のソフトウエアを書き直すことなく、アプリケーションを変えるだけでテストできる。

ただし、コンピューティング機�Δ�陳�悗砲覆襪箸い�らソフトウエアを書き換えても、テスター性�Δ��屬�らなくなる。このため、���Q�ξ�の中核となるマイクロプロセッサの性�Δ修里發里��屬欧襪海箸���要である。NIは、Intel Xeonプロセッサを搭載したPXI Expressを搭載したコントローラ「NI PXIe-8880」を4月2日に発表した。これは8コアのXeonプロセッサ「E5-2618L v3」を使った演�Qモジュールで、��来はクアッドコアのCore i7だった。新プロセッサによる性�Δ蓮�LabVIEWでFFT（高�]フーリエ変換）演�Qで1.91倍、CPUMarkで1.76倍の高性�Σ修魏未燭靴討い襦�CPUのクロック数は2.3GHz。

1��のモジュールでさえ、FPGAのように再プログラム可�Δ淵侫　璽爛ΕД��\術を採��することで、モジュールの機�Τ板イ箍�良が可�Δ砲覆襦�今後の新デバイスのテストには、ソフトウエアを書き換えるだけでかなりの�霾�は使えるようになる。

最後のトレンドとしてNIは、「メーカームーブメント」という言��を挙げている。これは、3Dプリンタや3D CADなどの普及などにより個人でもモノづくりができる時代に入ったという�T味である。かつて�O�瓩離�レージでパソコンを作ったAppleのSteve Jobs��(hu━)とSteve Wozniak��(hu━)のように個人がモノづくりをできる時代が再び訪れている。�@金的にも、さまざまな人たちから少�Yの投�@で出�@金を集めるクラウドファンディング（Crowdfunding）が使えるようになってきている。企業�笋癲⇔磴┐�GEは、学�擇���業家とメーカーが共同で、未来の電化����を開発するためのメーカースペース「FirstBuild」を立ち�屬欧燭箸いΑ�この考えは、教育現場も変えると期待されている。