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Mentor Graphics、チップ、サブストレート、PCBを協調設できるツール

Mentor Graphicsは、マルチチップ時代に官して、QICの端子データ、マルチチップを搭載したパッケージの端子データ、そのICパッケージを搭載するプリント配線基の端子データ、てを協調設するためのツール、Xpedition Package Integratorを発表した。これにより、チップの端子からプリント配線まで同時に設できるようになる。

図1 複数のベアチップ、パッケージサブストレート、PCBは別々の設だった それぞれの間は常にやりDりが要 出Z:Mentor Graphics

図1 複数のベアチップ、パッケージサブストレート、PCBは別々の設だった それぞれの間は常にやりDりが要 出Z:Mentor Graphics


SiP(Silicon in Package)やMCP(Multi-Chip Package)のような1パッケージに複数のチップを収容したICモジュールは、これからも\えてきそうだ。これまではベアチップの端子設、マルチチップのパッケージ設、PCB(printed circuit board)設、それぞれ別々に設していた。それぞれの工で図の∨,異なったり、3次元的な投影図が違ったり、@づけの{慣が違ったりなど、していた。おまけに最初の工で設変があれば、最後のPCB設はkからやり直さなくてはならなった。

これまでの設フローでは、ベアチップとパッケージサブストレート、PCB設それぞれでやりDりがあったものの、限られていたという。かつては開発期間が長く、Time to market(T2M)がかったために、それでも済んだ。しかし、今は]いT2Mが要求されるようになり、それぞれの間のやりDりを密にしなければ、]いT2Mに棺茲任なくなってきた(図1)。

今vMentorが発表したXpedition(図2)は、Q端子配線設の協調設のプラットフォームである。ベアダイの端子データ、パッケージサブストレートの端子配データ、PCB配線データをkつの画Cで見ることができる。SiPやMCP、PCBだけではなく、MCM(マルチチップモジュール)やRFv路、ハイブリッドIC、BGAなどいろいろな設の配線機Δ△┐討い襦このためグラフィカルなv路図に加え、表ベースの仕様、C図、HDLベースでさえも、同k画Cで見ることができる。低電圧に敏感なSoCは、チップ内陲念曚覆訶展仕徹気Hく、接情報の管理がに_要になる。

図2 Xpeditionは端子情報を共~できる 出Z:Mentor Graphics

図2 Xpeditionは端子情報を共~できる 出Z:Mentor Graphics


配線接情報は言うまでもなく、シグナルインテグリティやパワーインテグリティなどの電気的モデリングやDRC(デザインルールチェック)、レイアウト設、X解析などのシミュレーション機Δ盍泙泙譴討い襪燭瓠▲轡好謄爛譽戰襪任寮Δ箴嫡J電の最適なトレードオフを見つけることができる。

Xpeditionでは、仮[ダイモデルを使い、IPブロックやトップレイヤーのメタル配線、電源配線、I/Oパッドなどより詳細なダイのモデルを使っている。来はパッドの座Yとチップサイズのみだったが、チップとパッケージとのやりとりまで考慮できなかった。今vはダイのバンプや、配線レイヤーやビア、IPマクロブロックの配なども採り入れた仮[ダイモデルとなっている。

図3 信・團鵑粒笋蠹てにルールがある 出Z:Mentor Graphics

図3 信・團鵑粒笋蠹てにルールがある 出Z:Mentor Graphics


また、ICベアチップとパッケージ、ボードの最適化には、I/O信・團鵑粒笋蠹てルールが要となる(図3)。クリティカルな信、鮴榁魯團鵑里修个くとか、ある|のインターフェースのピンはまとめておくなどのルールである。こういったルールがあれば、協調設vはピンを配し、I/O信、鬚海譴蕕離團鵑乏笋蠹てるというプロセスをもっとスマートに最適化できる。

仮[ダイモデルとさまざまなシミュレータ、などで接情報と電気的、X的性を見積もることができるため、最適な配配線の設時間が]縮できる。なお、Mentorはマルチチップの設をどうやら、Intelと共同で}Xけているらしく、2015Q3月4日に開されたISQED (International Symposium on Quality Electronic Design)でダイとパッケージサブストレート、PCBの協調設に関する\術発表(参考@料1)を行っている。

参考@料
1. Brist, G. and Park, J., “A Novel Approach to IC, Package and Board Co-Optimization,” ISQED (International Symposium on Quality Electronic Design),March 4, 2015

(2015/03/25)
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