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セミコンポータルによる分析

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NI、RF/ミクストシグナルIC向けフレキシブルなテスターをリリース

NI、RF/ミクストシグナルIC向けフレキシブルなテスターをリリース

National Instrumentsは、半導チップの高性Σ宗高機Σ修帽腓錣擦謄侫譽シブルで再構成可Δ僻焼テストシステムSTS(Semiconductor Test System)を開発した(図1)。RFやミクストシグナル半導のテスト向け。オープンなモジュラー(sh┫)式のPXIハードウエアプラットフォームをベースにしているため、実xから量にPXIを\設するだけで々圓任る。最j(lu┛)の長は開発から量までの期間]縮だ。 [→きを読む]

富士通の半導業の再成まる

富士通の半導業の再成まる

富士通が半導業の再成を式に発表した。に、会塙{松工場と_工場は、それぞれファウンドリ会社として分社化する。残ったシステムメモリ業陲班抻猟魅┘譽トロニクスは、共に富士通セミコンダクターグループのk^となる。分社化されるファウンドリ新会社も同じグループのk^とする。 [→きを読む]

DRAMのビット成長率、20%時代に突入

DRAMのビット成長率、20%時代に突入

DRAMのビット成長がらかに鈍ったことを、x場調h会社IC Insightsがレポートした。1995〜1999Qには83%のQ平均成長率(CAGR)だったが、2010Qから2014Qに至る最Zの5Q間には36%に少する。ただし、2014Qは見込みである。 [→きを読む]

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