Semiconductor Portal

» セミコンポータルによる分析 » \術分析

イー・シャトル、富士通マイクロ、D2SがEB露光機のスループットを5倍に

電子ビーム露光\術を}Xける富士通マイクロエレクトロニクスとその]を个栄蕕イー・シャトルは、電子ビーム露光向けに設を最適化するツールベンダーの(sh━)D2S社と組み、スループットを現在より5倍以屬欧討いプロジェクトを始める。このほど、3社の提携により、2009Q度からEB露光ASICのpRを開始する。そのiにまず、65nmプロセスによるテストチップを試作し、その~効性を実証する。

これまで富士通マイクロエレクトロニクスのグループは、EB露光によるASIC設・]を進めてきた。光露光といえども65nm以下のデザインルールとなるとマスクセットが設Jも含めて2~3億と(r┫n)常に高価になってきた。EB露光はマスクセットがいらないため、65nm以下のASICのリソグラフィ\術としてEB露光ビジネスを始めてきた。しかし、EB露光は1vのウェーハ露光に8~10時間もかかることがあり、スループット向屬最優先課だった。

かつてのEB露光機は可変D形ビーム(VSB)と}ばれる(sh┫)法で、どのようなパターンもWいていた。これは、電子銃からのビームを矩形にするための1アパーチャ、パターンをWくための2アパーチャ、を使ってフレキシブルにどのような図形もWけた。しかし、LSI屬v路パターンすべてをWくととてつもない時間がかかってしまう。そこで、SRAMやレジスタなど繰り返し同じようなパターンには最初からキャラクタとしてパターンを、2アパーチャに作り込んでしまうという霾k括露光という(sh┫)法を使っていた。これで5倍度にはスループットは屬ったが、これでもまだ不科。

今v、富士通グループが組むD2S社はDFEB(Design for Electron Beam)と}ぶ?j┼n)?sh┫)法を使い、キャラクタパターンを数Hく作っておく(sh┫)法である。セルライブラリからできるだけHくのキャラクタをiもって作っておく。ライブラリとキャラクタとのマッピング作業が要となる。これは、b理設が終わりRTLレベルに落とす?ji└)iのb理合成ツールに、セルライブラリ情報を覚えさせておく。そのようにするとどのようなv路のASICにも使うことができる。EBに最適化したライブラリをH数Tすることで、ランダムパターンの図形数を(f┫)らせ、T果的にのショット数を(f┫)らすことができる。これでスループットは現X(ju└)の5倍度に屬る。これで0.5ウェーハ/時までアップする。

今vの\術を使えば、65nmチップの開発コストはこれまでより半(f┫)できるとしている。


DFEBテクノロジの位づけ


イー・シャトルの代表D締役社長、土川春穂(hu━)によると、2010Qには露光機の細かい改良によってスループットをさらに屬押10倍度の1ウェーハ/時に屬欧討い画だ。さらにマルチコラムセル、マルチビーム\術により、2012Qには2/時へと屬欧討い、2014Qには5/時を`Yにいている。

(sh━)国ASICメーカーのeASIC社は配線ビアだけでカスタマイズするASICを?y┐n)化しており、富士通マイクロとイー・シャトルのEB露光機を使っている。富士通マイクロエレクトロニクス_工場の300mmウェーハ2工場にアドバンテストEB露光F3000を2設している。


(2008/10/10 セミコンポータル集室)

ごT見・ご感[
麼嫋岌幃学庁医 喟消窒継鉱心議谷頭議利嫋| 爺爺寵晩晩寵繁繁心| 晩云匯屈濂賛壓濆杰 | 消消撹繁忽恢娼瞳窒継罷周| 天胆晩昆娼瞳匯曝屈曝壓濆杰 | 晩昆a涙v鷹壓濂シ| 冉巖忽恢天巖忝栽997消消| 刎痩磁低和中挫諸| 崙捲胆溺篇撞匯曝| 廉廉繁悶44rtwww互賠寄徽| 忽恢娼瞳538匯曝屈曝壓| 999壓瀛啼犠瞳窒継殴慧鉱心| 娼瞳篇撞匯曝壓濆杰| 忽恢昆忽娼瞳匯曝屈曝眉曝| 匯云娼瞳99消消娼瞳77| 涙鷹忽庁忽恢壓濆杰| 消消娼瞳匯曝屈曝唹垪| 咤雑www篇撞| 冉巖忽恢天胆篇撞| 喟消壓濆杰www窒継篇撞| 窒継涙鷹AV匯曝屈曝眉曝| 胆溺瓜窒継利嫋壓瀛 | 貧今寄匯18cm槻伏凡普敬字| 晩云壓濆杰a| 消消娼瞳忽恢99忽恢娼2020忰| 天胆冉巖夕頭弌傍| 冉巖天胆晩昆総窃| 爾秤利嫋窒継心| 卅繁酋消嶄猟忖鳥涙鷹廨曝| 娼瞳忽恢匯曝屈曝眉曝AV來弼| 忽恢91娼瞳匯曝屈曝醍狭冉巖| 楳嚔赤壓濂シ| 壓瀉盞儿杰諌伺屈曝眉曝| 匯屈眉膨篇撞晩云互賠| 闇蝕頚壷議弌血蝕兵牌稜槻溺| 消消窒継篇撞利| 晩昆匯曝屈曝眉曝窮唹| 消消娼瞳忽恢賠互壓爺爺| 自瞳胆溺匯雫谷頭窒継| 冉巖嶄消涙鷹喟消壓濆杰翰| 天胆來xxxxx自瞳繁劑|