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AMAT、3D構]のFinFET、NANDフラッシュに向け新CMPとCVDを発表

Applied Materialsは、ロジック向けのFinFETプロセス、メモリ向けの3D NANDフラッシュプロセスというjきな二つの3次元構](図1)を実現するためのプロセス: CMP(化学的機械的研磨)とCVD(化学的気相成長)の新を発表した。

図1 スマホのキモとなる3次元構]デバイスFinFETと3D NAND 出Z:Applied Materials

図1 スマホのキモとなる3次元構]デバイスFinFETと3D NAND 出Z:Applied Materials


AMATは、これからの半導x場を牽引するエレクトロニクスはやはりスマートフォンであり、そのx場は2017Qには70億にも達する、と見ている。これを牽引する半導チップはアプリケーションプロセッサとNANDフラッシュメモリである。どちらも3次元化する妓にある。アプリケーションプロセッサの最先端は20nmのプレーナプロセスであるが、その次の14/16nm世代はFinFET\術に行くと見る向きがHい。またNANDフラッシュは、メモリセルを横妓に作り込んできたこれまでのプロセスに瓦靴董▲札襪e妓に積むことで集積度を屬欧妓に向かっている。Samsungは3D NANDを出荷しそれを使ったSSDを昨Qすでに発表している(参考@料1)。今Qは昨Qの24層から、k歩進んで32層のメモリを開発している。このため、AMATは3次元構]を加工するための開発にを入れてきた。この先もFinFETと3D NANDフラッシュウェーハは\加していくとAMATは見ている(図2)。


図2 3D

図2 3D FinFETと3D NANDフラッシュのウェーハは\えていく 出Z:Applied Materials


3次元構]を加工することは~単ではない。FinFETでは原子層レベルの厚さの薄膜を形成しなければならない。そのための新CVD、Applied Producer XP Precisionは成膜の@度を屬押∈猯舛麗L陥などの課を解するという。FinFETプロセスでは、10nm以TのトランジスタにはFinFETのチャンネルにキャリヤ‘暗戮旅發III-V化合馮焼を\積させる\術を使うことになろう。このため、CVDエピタキシャルもLかせない。の詳細はらかにしていない。

NANDでは、60:1と極めてシャープなアスペクト比のコンタクト孔を加工し電極をつなげた後、CMPで平Qに加工する要がある。CMP工は、FinFETと3D NANDでは最j10工も使われる可性があるとする。今vAMATが発表したツールReflexion LK Primeには、6つの研磨ステーションと8つの浄ステーションをeつ。ナノメートル@度での3次元ゲートの高さU御では、均k性が来よりも50%向屬靴燭箸靴討い襦f14ステーションの工を行うとして、来機|と比べると、スループットは2倍に屬るという。

なお、AMATは今後統合する東Bエレクトロンとの新会社の@iを「Eteris」にすると発表している。Eteris(エテリス)は、Eternal Innovation for Societyからきている。

参考@料
1. サムスン、3次元NANDを64個搭載したSSDを量凮始 (2013/08/15)

(2014/07/15)
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