GaNパワ〖染瞥攣の嫡バイアス活賦數恕がJEDEC篩潔となった
步圭濕パワ〖染瞥攣のGaNデバイスの嫡バイアス慨完拉刪擦恕∈哭1∷がJEDECで篩潔步された∈徊雇獲瘟1∷。JEDEC∈Joint Electron Device Engineering Council∷はメモリのピン芹彌などの篩潔步をみんなで瘋めるための坤腸弄な篩潔步媚攣。ここで瘋まった慌屯は染瞥攣瀾墑の篩潔となり、瀾墑の舍第だけではなくコストを布げる舔充もある。
哭1 2024鉗1奉30泣に瘋まったGaNパワ〖デバイスの慨完拉活賦
JEDEC篩潔は1家が迫極に瘋めた篩潔∈デファクトスタンダ〖ド∷ではなく、みんなで瘋める篩潔憚呈である。篩潔憚呈というと、ややもすると汗侍步できないといった蘭があるが、あくまでも掐叫蝸だけを篩潔憚呈として瘋めることが驢い。瀾墑柒嬸のテクノロジ〖は、もちろん入泰であり、汗侍步妥傍の辦つである。それだけではない。篩潔弄な嬸墑を寥み圭わせて、糠しいシステムを侯る眷圭でも夢弄衡緩となる汗侍步妥燎になる。ブロック瘁惡の≈レゴ∽がまさにこれに碰たる。鋪嬸尸のサイズと光さを路えて篩潔步しておけば、その寥み圭わせは痰嘎にあり、迫極拉のあるモノを侯ることができる。
染瞥攣では肩に掐叫蝸嬸尸の篩潔步が驢く、その柒嬸は夢弄衡緩として奸られている。掐叫蝸嬸尸を篩潔步しておけば、つなげられるデバイスの寥み圭わせは痰嘎に驢くなり、輝眷は弓がっていく。また肋紛倡券する婁は、掐叫蝸に坷沸を蝗う澀妥がなくなりコスト你負になる。
海攙のGaN嫡バイアス活賦數恕ではGaN馮窘や燒匡する冷憋遂や垛擄遂などの墓袋弄な昔步を茂しもが材渾步できるというメリットがある。このため昔步しない瀾墑侯りに籃を叫すことができるようになる。篩潔步していなければ、活賦して圭呈したとしても杠狄からデバイスに灤する慨完が評られない。みんなで廈し圭って瘋めた憚呈だからこそ、メ〖カ〖もユ〖ザ〖も奧看してデバイスを刪擦し、鼎奶千急を積つことができる。
海攙JEDECが券山した篩潔憚呈は、JEP198と鈣ばれる、GaN排蝸恃垂デバイスの嫡バイアス慨完拉刪擦緘界のガイドラインを淡した矢今として券乖された。JEP198は、TDB∈Time Dependent Breakdown¨バイアスを齒けた覺輪で沸箕恃步による撬蟬の銅痰を澄千する活賦∷による慨完拉昔步を刪擦するためのガイドラインである。プレ〖ナ房エンハンスメントモ〖ドやデプリ〖ションモ〖ドのGaNトランジスタや、GaNIC、カスコ〖ド儡魯されたGaNパワ〖トランジスタなどを刪擦する。
この矢今は、GaNパワ〖トランジスタのオフ覺輪でTDB慨完拉を刪擦するための磅裁掘鳳やテストパラメ〖タなどについて今かれている。磅裁ストレス掘鳳とテストパラメ〖タは、光補嫡バイアス活賦と脫龐侍漓脫活賦の尉數に慨完拉を刪擦するように淡揭されており、裁廬活賦掘鳳の悸脫弄な活賦箕粗で刪擦できる。
この篩潔憚呈は、JEDECのJC-70.1GaNパワ〖サブ把鎊柴で侯喇したもので、篩潔步で圭罷するのに眶鉗かかったとしている。この篩潔步矢今はウェブサイト∈徊雇獲瘟2∷から茂でもダウンロ〖ドできる。
徊雇獲瘟
1. "JEDEC Wide Bandgap Power Semiconductor Committee Publishes a Milestone Document for Reverse Bias Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices", JEDEC (2024/01/30)
2. "Guideline for Reverse Bias Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices", JEDEC (November 2023)
