�O動�Zの電子�U御システムがこれまでどれくらい人の命を��ったことか、電子�U御システムのおかげで交通��故は����した。数�Cははっきり覚えていないが、日���O動�Zフェローの久��春����がセミコンジャパン2009の基調講演で��してくれたスライドでは、電子�U御システムの導入・進�tと、交通��故の��少とがはっきりした相関関係を�eっていた。現実に交通��故による�x�vは�Q々��少��向にある。��酔い運転のような人為的なひどい運転でもしない限り、��故による�x�vはありえないほどに��少した。

アナログデバイスがいち早く商��化した加�]度センサーが高級�Zだけではなく�j���Z、軽�O動�Zにまで使われるようになり、�i�Cガラスに頭をぶつけて�xぬということは極めて少なくなった。今やアナデバだけではない。加�]度センサー参入メーカーは�Hい。また電子�U御�\術のおかげで、�~害な排ガスはほとんど出さなくなった。電子�U御のおかげで�U�Tる日でもスピンする�Zが少なくなった。電子�U御のおかげでバックモニターを見られるようになった。衝突防�Vシステムも、レーンからのはみだし警告システム、居��り防�V警告システムもすべて電子�U御、その中核は半導��で行っている。

3月30日の日刊工業新聞でも、�O動�Z����メーカー世�cトップの独ボッシュ社日本法人役�^へのインタビューで以下のようなやり�Dりがあった。「−電子�U御は故障しやすいという認識が�k�陲任呂△襪茲Δ任后廚箸いμ笋い�けに�瓦靴董◆屮蓮璽��Cで半導��は機械式����よりはるかに信頼度が高い」と答えている。

このボッシュ役�^の認識は、�Mがかつてシリコン圧��センサーに関して�D材した1980�Q代と変わっていない。シリコンは丈夫なだけではなく、電子�v路で�O動�Zの「走る、曲がる�Vまる」という機�Δ��U御するほうが機械式で�U御するよりもずっと信頼性は高い。ブログでも紹介したが、シリコン半導��は機械的にも�咾ぁ�

最�Zになってジェットコースターや電�Z、�O動�Zの機械����（ねじやナット、ボルトなど）の�C耗が原因の��故があった。かつての日�豕，慮譱禊a�僂任竜�故も隔壁を�Vめていた機械����の劣化による�C耗疲労が原因だった。機械には�C耗・劣化という�發���ずいる。

電子�U御が�Kいというのは、風�h被害のようなものだ。実際には、電子�U御システムのおかげで人の命がずいぶんと��われたのにもかかわらず、逆の風�hが出ていることは本当に悲しい。こういった誤った認識をわれわれエンジニアが変えていかなければならない。

�k��(sh┫)、電子�U御システには�C耗疲労という�發呂い覆い�、ソフトウエアのバグという新たな�發�いる。電子�U御システムは基本的に、プロセッサとROM、RAM、周辺�v路、インターフェースを基本とする組み込みシステムでできており、ROMに焼き��けるプログラムのミスが命�Dりとなる可��性があり、�R�Tを要する。

できるだけプログラムミスを�Dり除くため、欧�Δ��O動�Z��ソフトウエアプラットフォームであるAUTOSARには、チェックリストが組み込まれている。もちろん、これだけでプログラムミスは防げないが、ミスをできるだけ��らすためのOS、ミドルウエア、アプリケーションという階層構成にして、プログラム行数を��らす努��が��けられている。人間がプログラムする�lであるから、それを�~単にチェックする��(sh┫)法、ほかの人からもプログラミングが見えるような透��性のあるテスト法、�b理的な�T盾を見つけるアルゴリズムなど、バグを���Eする開発は進んでいる。プログラムミスは人為的なミスだからこそ、防げる�}立ては��ずある。

機械����の�C耗といった�`に見えない故障を見つける�\術は、例えば��音�S探�a機をはじめとしてないことはないが、�O動�Z����の機械����の�C耗の�差腓鬚垢戮謄船Д奪�することは�Mしい。��音�Sセンサーを�Dり��けられる場所にも�U限がある。

やはり、プログラムミスを発見する��(sh┫)法の��(sh┫)がよりスマートで確実だろう。プログラムミスを見つけられるアルゴリズムや�\術を創�]できれば、世�cに通��する�\術となる。これこそ、国家プロジェクトで進めるテーマではないだろうか。