ISSM 2020 - INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING

ISSM AI技術コミ냆わV��2020

SEM��d��分類のAIアルゴリズムゟ냳テスト部門

本コミ냆わV��は半���体製造装�|�現場で発生する実デヹ{��を用い�?実践的な研究開発の裾野を広げることを目的とします�?このゟ냳テストは、半���体製造の歩留まり向上に必須である「SEM��d��中の�Ơ陥ヅR��ヹ{��ィクル分��」アルゴリズムのゟ냳テストです。実際の半導体製造に�ѝ��れた�?,000枚のパーティクルSEM��d��を、指定されたカテゴリに自動分��する学���モデルを作成して頂きます。パヹ{��ィクル領域の特定と分��精度について、半���体製造にベテランのエミ낸ニアが分��済�ѝ��リストとの一致度を競います�?

エントリ�?/h4>

エントリヹ{���i�了しました

ゟ냳テストの応募要項

• 参加資格　学生�Q�個�h、チヹ{��いずれの参加も可能です）
• Kaggle in Classを��ったゟ냳テス�?br> Kaggle in Classは、世界中の数百の大学でデヹ{��解析技術の演習に用いられているツールです。初めてKaggleに挑戦したい斏V��もお薦めです�?/li>
• 使用�a��?br> Python
• 課題「SEM��d��中の�Ơ陥分類」と評�M
  �Ơ陥ヅR��ヹ{��ィクルの SEM ��d���?指示されたクラスに分��し、分��正�{�率でラミ낭ミ낰を競います�?/li>
• 求めたいわV���?br> 基本的な��d��認識��d����に関する手法に加えて、デヹ{��不均衡・不明瞭クラス��d�����欠陥など、半���体製造現場における実運用時に発生するデー�ѝ��課題への寑ֿ�が求められます�?/li>
• 提出�?br> ヅR��ヹ{�� Kaggle上に提出
  ヅR��ブストラクト MS Word 1ページ（日英いずれでも可�Q�を事務局に提�?/li>
• 提供デー�ѝ��ット�Q�実際に半導体製造に�ѝ��れたSEM��d��が提供されます）
  学習データ：(x��) 3,400�?,000 ��c(di��n)��プル
  テストデヹ{���Q? 200�?00 ��c(di��n)��プル�Q�予備実験で誤分��したサミ냗ルを多く含みます�Q?br> こち�?/a>をご参照ください�?br> 2. アブわV��ラクト：(x��)�Q�ワヹ{��形式　ISSMテンプレヹ{��使用�Q�を下記DropBoxへアップロードしてください�?br> ファイル名にはチヹ{��名を必ず�a�載してください�?br> 例） Team-ISSM.docx
  ISSM SEM Image Classification AI Algorithm Contest

  わV��ジュヹ{�� �Q�締切�g镗���ました）

  • エントリー締�? 2020�q?span class="notice">11�?3�?/span>
    �Q�エミ냈リー後、画像が見られるようになりますので早目のエントリヹ{��お薦めします�Q?/li>
  • Kaggle�?ch��)ーザー登録開�? 2020�q?�?5日（予定�Q?/li>
  • ゟ냼ド提出締�? 2020�q?span class="notice">12�?�?/span>
  • アブわV��ラクト締�? 2020�q?span class="notice">12�?�?/span>�Q�MS Word　1ページ）

  表嘪

  • 分類の正�{�率をもとに�?最優秀賞�?技術賞を表彰します�?表嘪者・表嘪チームには�?表嘪状と賞品が授与されます�?
  • 表嘪�?br> 優秀者・チームはISSM 2020�Q?020�q?2�?5日~16日ONLINE開催�Q�で表嘪します�?/li>